Fischerscope X-ray测厚仪

       Fischerscope X-ray测厚仪的特点：根据DINISO3497和ASTMB568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1mm；XUL最小测量点约0.5mm钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源。

　　采用经实践验证的短测量时间的比例接收器准直器：固定或4个自动切换

　　初级过滤器：固定或3个自动切换固定样品台或手动XY载物台用于光学观察测量点的摄像头经认证的全面防护设计；FischerMP0系列测厚仪应用：电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护电镀液中金属含量的分析装饰性涂层Cr/Ni/Cu/ABS>电子行业连接器和触点上的镀层。

      Fischerscope X-ray测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPEX-RAY仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

　　XAN500采用的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠FISCHER的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

　　使用XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。