费舍尔涂层测厚仪Deltascope FMP30

 费舍尔涂层测厚仪Deltascope FMP30

费舍尔涂层测厚仪Deltascope FMP30

DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪适合于需要一款独立的仪器带全部测量数据存储，输出和打印功能的使用者。DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪能存储多达100个应用程式中1,000个数据组中的10,000个测量数据。除了一些常用的统计参数以外，DELTASCOPE FMP30涂层测厚仪还具有打印柱状图，正态分布图表，以及Cp和 Cpk指标的功能。另外，每一个测量组都带日期和时间显示和存储。
DELTASCOPE FMP30涂层测厚仪配备有一个的和便于读取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，应用程式号，组号，统计数据，Cp和 Cpk，产品规格限制超出，日期，时间，以及显示操作模式和设置的图标和符号，2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。

德国Fischer ISOSCOPE FMP30膜厚仪具有打印柱状图，正态分布图表，以及Cp和 Cpk指标的功能。
自动的求平均功能降低了测量数据范围内的表面粗糙度影响。探头自动识别。
应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。

FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 XDL-B 的特色是*的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。