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菲希尔x射线荧光测厚仪XDV-μ LD

更新时间:2022-04-02

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厂商性质:代理商

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简要描述:
菲希尔x射线荧光测厚仪XDV-μ LD,菲希尔测厚仪,fischer测厚仪现货供应,测量精度高,准确性好。
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,石油,能源,电子

菲希尔x射线荧光测厚仪XDV-μ LD

菲希尔x射线荧光测厚仪XDV-μ LD

XDV-μ 型系列仪器是专为在很微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜,光斑直径(FWHM)可达10至60μm。短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了通用型XDV-?型仪器,还有专门为电子和半导体行业而设计的仪器。如XDV-μLD是专为测量线路板而优化的,而XDV-μ wafer是为在洁净间使用而设计的。XDV-μ测量空间宽大,样品放置便捷,特别适合测量平面和大型板材类的样品,还特意为面积超大的板材类样品(例如大线路板)留有一个开口(C型槽)。连续测试或镀层厚度和元素分布的测量都可以方便地用快速可编程XY工作台完成。

图片4.jpg菲希尔手持式荧光射线分析仪

菲希尔x荧光测厚仪特点

通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准

重量1.9 kg

一次电池充电可持续运行6个小时

测量点:3毫米Ø

高分辨率硅漂移检测器

用于户外的IP54等级

用作台式设备的可选测量箱;

使用完整版WinFTM®软件进行数据统计


无锡骏展仪器有限责任公司提供专业的技术服务和售后服务的各种精密检测仪器和设备,和专业的技术能力,全面的产品资源,深思熟虑的和快速的服务,可靠的设备质量为目的,在加工、先进制造、新材料应用,科学研究等前沿领域有*的优势。

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