MarSurf XR 20

MarSurf XR 20

Quick & Easy是Mahr公司为了客户能进行快速和简易的操作而特意设计的 测量程序，

您不用为高难度的操作过程所烦恼，简单明了的符号将辅助您轻松完成各项测量。

测量工作站适合在实验室和生产线进行测量。有多种结构可供选择，以便在表面形貌特征测量系统中实现测量微元素的无限可能性。

产品详细介绍：

测量/评定：

基于Windows操作系统的MarSurf XR20 马尔轮廓仪软件具有德语、英语、法语、意大利语以及西班牙语等多种语言。

参数和轮廓：

超过65个R-轮廓、P轮廓、W轮廓和motifs参数，带公差监测和统计功能。参数列表和特征曲线。

轮廓分辨率：

取决于传感器型号，为± 25 µm测量范围内，小分辨率可达76 nm。

测量范围：

± 25 µm到± 2500 µm，取决于所用传感器类型。

采样长度个数N：

1个到5个，或1个到Nmax个在N x Lc模式中，Nmax=驱动单元的大测量长度/Lc滤波设定）

滤波器类型：

GS / 2RC / SF ISO 13565-1 /外形翻转NEG/ARC-(弧形消除) -支持选择其他特别的过滤器

取样长度 Lc：

可自由设定Lc，大25 mm ，Lc = f(lt)；0.025 mm / 0.08 mm / 0.25 mm / 0.8 mm / 2.5 mm / 8 mm以及短截止波长Lc， 默认取样长度值符合ISO 4288规定，取样长度取决于Lt和dx。

驱动单元

PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120, PRK (通过PAV 62)

MarSurf XR 20