Fischer XAN 220菲希尔x射线测厚仪

 Fischer XAN 220菲希尔x射线测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射线荧光测量仪，用于快速、无损分析黄金和银合金：
X射线荧光测量仪用于金银合金快速无损分析及镀层厚度测量，菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一种优化的X射线荧光测量仪器，用于珠宝、硬币和贵金属的无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。在氯（17）到铀（92）范围内可同时测定多达24种元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
FISCHERSCOPE XAN220产品特点：
•    菲希尔XAN220型X射线金属材料分析仪为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计；
•    配备固定的准直器和基本虑片，特别适用于贵金属分析
•    配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，适用于更复杂的多元素分析
•    由下至上的测量方向，可以简便地实现样品定位

德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品简介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款颇具性价比的入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。
它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯(17)到铀(92)，多时可同时测定24种元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，本款仪器有着初设的准确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。
先进的Si-PIN的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。