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菲希尔x射线测厚仪介绍

更新时间:2022-05-12   点击次数:822次

菲希尔x射线测厚仪介绍

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菲希尔x射线测厚仪德国设计:质量好,技术优

菲希尔x荧光射线测厚仪一个软件实现镀层厚度测量和材料分析两个功能

菲希尔x荧光射线测厚仪扩展统计功能。例如,测量结果可以记录并转为SPC图表显示

菲希尔x荧光射线分析仪图像识别:WinFTM可以自行查找预设的测量位置

基于基本参数分析的无标准片测量:在手边样本组成未知的情况下实现精确的测量结果

距离控制测量(DCM):无需移动轴即可保持与不规则形状样品的正确测量距离。只需将摄像头聚焦到样品表面即可。剩下的由WinFTM软件完成。这要比移动轴快。此外,没有轴与样品碰撞的风险

测量质量:我们的仪器可以判断您的测量质量。错误地选择了错误的测量任务或测量了错误的样品?您的FISCHERSCOPE仪器会提醒您

任务程式:只需单击一下,几乎可以对WinFTM软件中执行的所有操作进行编程并执行。例如,一项任务可以自动测量多个合金样品。 X射线仪器将XY工作台移动到样品位置,加载每个合金特定的测量条件,最后根据您的需要生成测试报告

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