Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希尔x射线

 Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希尔x射线

从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确度，精度和可靠性的要求。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点,由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率,确保良好的重复精度。比较XUL和XUM仪器而言, XDL和XDLM系列仪器测星测星方向从.上到下。它们被设计为用户友好的台式机,使用模块化结构,也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。

Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希尔x射线

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。
微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信号，以此造就了高精度的测量。出色的准确性及长期的稳定性是FISCHER X射线仪器的共有特点，因此也大大减少了重新校准仪器的需要，为您节省时间和精力。
依靠FISCHER所采用的的*基本参数法，可以在没有标准片校正的情况下分析固、液态样品及测量样品的镀层厚度。