菲希尔X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237

 菲希尔X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237

FischerXDLM232

FischerXDLM232

从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确度，精度和可靠性的要求。
两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点,由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率,确保良好的重复精度。比较XUL和XUM仪器而言, XDL和XDLM系列仪器测星测星方向从.上到下。它们被设计为用户友好的台式机,使用模块化结构,也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。
装备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它能够很便当地扫描外表,这样就能够检查其平均性。为了简单快速定位样品，当丈量门开启时, XY工作台自动挪动到加载位置,同时激光点指示测星点位置。关于大而平整的样品,例如线路板,壳体在侧面有启齿(C形槽)。由于测星室空间很大,样品放置便当，仪器不只能够丈量平面平整的物体,也能够测星外形复杂的大样品(样品高度可达140mm)。Z轴可电动调整的仪器，丈量间隔还能够在0 - 80 mm的范围内自在选择,这样就能够测星腔体内部或外表不平整的物体(DCM办法)。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

菲希尔X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237