fischerscope XDLM231/XDLM232/XDLM237

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FischerXDLM232

FischerXDLM232

x射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也称为X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动或自动方式，测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。

x射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的应用领域有：

1，测量大规模生产的电镀零部件

2，测量微小区域上的薄镀层

3，测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

4，全自动测量，如测量印刷线路板

ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。

XDLM 231 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDLM 232 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDLM 237 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。

XDLM系列仪器带有4个可切换准直器，3种可切换的基本滤片，采用比例接收器，测量距离为0-80mm。

使用高分辨率的CCD彩色摄像头

仪器重量100kg-120kg

仪器使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度为≤95%，无结露

计算机要求：带扩展卡的计算机系统

可按要求，提供额外的XDLM型产品更改和XDLM仪器技术咨询

稳固的手持式测量设备，用于直接现场测试

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

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