菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210测厚仪

 菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210测厚仪

 XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪，用于对保护和装饰涂料，量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。菲希尔荧光镀层分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）。配备一个固定的准直器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选用自动测量的可编程工作台. 菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210测厚仪

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。