FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希尔测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希尔测厚仪

FISCHERSCOPEX-RAYXUL和XULM系列荧光镀层测厚仪介绍：

多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50 nm Au或100 μmSn）都通过选择好的高压滤片组合很好地测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100 μm的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。对于FISCHERSCOPE X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有用。尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计（C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法*放入测量室，样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位精度更高的手动XY工作台上。

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希尔测厚仪

Fischer Dualscope MP0测厚仪
DualScope MP0 袖珍式涂镀层测厚仪：涂镀层测厚仪（别名：涂层测厚仪，镀层厚度测量仪，涂镀层厚度无损测量仪，手持式涂镀层测厚仪，表面电镀层厚度测量仪，油漆涂层测厚仪，便携式涂层测厚仪，*涂层测厚仪，无损测厚仪，覆层测厚仪。
技术规格：
量 程：0～2000μm。
精 度：1μm（0～50μm）；2%（50μm～1000μm）；3%（1000μm～2000μm）。
重复精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
最小测量曲率直径：在精度范围内，铁基φ35mm，非铁基φ50mm；
（在允许误差＜10%时，铁基为φ10mm，非铁基为φ2mm）。
最小测量面积直径：φ4mm（在允许误差＜10%时，为φ2mm）。
最小基体厚度：铁基0.2mm（误差＜10%时）；非铁基0.09mm（误差＜10%时）。
重 量：60g（不含电池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
电 源：两节5号电池。
标准配置：
铁基型：主机一台；铁基体一块；标准片一片；仪器盒；操作手册；
两用型：主机一台；铁、铝基体各一块；标准片一片；仪器盒；操作手册