X射线荧光测厚仪

　 X射线荧光测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPEX-RAY仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

　　XAN500采用*的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠FISCHER的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

       X射线荧光测厚仪使用XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。

　　菲希尔公司FISCHER品牌的x-ray镀层厚度检测及材料分析仪是业内的产品，在全球有着广泛的客户和良好的声誉。FISCHERSCOPEX-RAYXDLM237X射线镀层厚度测试仪及材料分析仪采用手动或自动方式，测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。FISCHERSCOPE®X-RAYXDAL237SDDX射线镀层厚度测试仪及材料分析RoHs检测仪，配备可编程运行XY工作台及Z轴升降系统，全自动测量超薄镀层厚度和分析材料成分。可按要求，提供额外的XAN500型产品更改和XAN500仪器技术咨询