镀铬层厚度测量菲希尔XDL230

镀铬层厚度测量菲希尔XDL230

镀铬层厚度测量菲希尔XDL230

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。德国菲希尔X射线膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计（C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法*放入测量室。

XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的超薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。