菲希尔电导率测试仪Sigmascope SMP30

 菲希尔电导率测试仪Sigmascope SMP30

菲希尔电导率测试仪Sigmascope SMP30

Sigmascope SMP30的产品特性：
快速、无损地精确测量有色金属的电导率，符合 DIN EN 2004-1 与 ASTM E 1004 标准
适用于各种应用的电导率探头
根据探头，针对不同渗透深度提供不同测量频率（范围为 15 kHz 至 1 MHz）
针对已知曲率直径的自动曲率补偿（最小直径低至 6 mm）
我们提供经过认证的测量标准（以 MS/m 计，%IACS），可追溯校准标准
Sigmascope SMP30的应用：
针对原材料进行电导率测试，以实现分拣与质量保证
造币中的合金元素检查（例如欧元硬币的电导率）
热处理材料的硬度与强度评估
可因温度波动而改变的机身或类似组件的材料稳定性控制
铜合金或含铜材料中的磷含量估算
沉淀工艺跟踪，例如铜铬合金
合金同质性检查
废料分拣

X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点，可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，简化了样品放置的过程，并可对测量点位置进行精确微调。