fischer x荧光射线分析仪XAN252

fischer x荧光射线分析仪XAN252

fischer x荧光射线分析仪XAN252

菲希尔XAN252特点：
fischerscopexan252高性能机型，具有强大的综合测量能力；
fischerscopexan252配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片；
配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析；
由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位。  
菲希尔测厚仪典型应用领域：
fischer测厚仪对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量；
fischer测厚仪对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量；
在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析；
用于高校研究和工业研发领域。

XAN 500型X射线荧光测厚仪
产品用途
在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）
可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。
将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓
还可整合到生产线的控制系统中，可以实现的质量监控
产品特点：
手持式便携X射线荧光仪器
为镀层厚度测量和合金分析而优化
3点支撑，保证每次测量时的位置准确
带有WinFTM软件的平板电脑 (平板电脑可单独购买)
蓝牙接口
可选的测试箱