Fischerscope X-RAYXAN250菲希尔测厚仪

 Fischerscope X-RAYXAN250菲希尔测厚仪

Fischerscope X-RAYXAN250菲希尔测厚仪

菲希尔x射线测厚仪优点
菲希尔XAN250德国设计：技术先进
菲希尔XAN250一个软件实现镀层厚度测量和材料分析两个功能
扩展统计功能。例如，测量结果可以记录并转为SPC图表显示
Fischerscope X-ray图像识别：WinFTM可以自行查找预设的测量位置
Fischerscope X-ray基于基本参数分析的无标准片测量：在手边样本组成未知的情况下实现精确的测量结果
距离控制测量（DCM）：无需移动轴即可保持与不规则形状样品的正确测量距离。只需将摄像头聚焦到样品表面即可。剩下的由WinFTM软件完成。这要比移动轴快。此外，没有轴与样品碰撞的风险
测量质量：我们的仪器可以判断您的测量质量。错误地选择了错误的测量任务或测量了错误的样品？您的FISCHERSCOPE仪器会提醒您
任务程式：只需单击一下，几乎可以对WinFTM软件中执行的所有操作进行编程并执行。例如，一项任务可以自动测量多个合金样品。 X射线仪器将XY工作台移动到样品位置，加载每个合金特定的测量条件，最后根据您的需要生成测试报告

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

菲希尔x射线测厚仪产品特点：
高性能机型，具有强大的综合测量能力
配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位 

菲希尔测厚仪应用领域：
对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析
用于高校研究和工业研发领域