FISCHERSCOPE X-RAY XUL菲希尔测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XUL菲希尔测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XUL菲希尔测厚仪

在无损无接触的涂层厚度测量和材料分析领域，FISCHERSCOPE X射线仪器是理想的选择。自1983年以来，我们的X射线仪器已成为几乎所有主要行业质量测试的一个组成部分。我们的仪器以其精确性、准确性和耐用性而闻名。同时，FISCHERSCOPE X射线的设计易于使用，并在测量的各个方面为您提供支持。 这使您可以专注于手头上的质量工作，而不是测量仪器上。

我们的X射线仪器配有专用的FischerWinFTM软件，旨在规范测量过程。这包括控制X射线、实现测量的可追溯性、生成个性化测量报告以及与内部网络交互。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL

菲希尔x荧光测厚仪特点
菲希尔测厚仪代理根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度
菲希尔测厚仪代理XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm
钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源
采用经实践验证的短测量时间的比例接收器
准直器：固定或4个自动切换
初级过滤器：固定或3个自动切换
固定样品台或手动XY载物台
用于光学观察测量点的摄像头
经认证的全面防护设计；