菲希尔x荧光射线分析仪XAN250

 菲希尔x荧光射线分析仪XAN250

菲希尔x荧光射线分析仪XAN250

FISCHERSCOPE XAN 250 X射线荧光测量仪概述：
菲希尔xan250高性能X射线荧光测量仪，配有非常*的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
FISCHERSCOPE XAN 250 X射线荧光测量仪特点：
•高性能机型，具有强大的综合测量能力
•配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
•配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
•由下的测量方向，可以非常简便地实现样品定位 
典型应用领域：
•对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
•对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
•在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析
•用于高校研究和工业研发领域

无锡骏展仪器有限责任公司的产品和系统解决方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造、精密机械、模具加工、电子电力、铸造、冶金、航空航天、工程建设、大学和其他研究实验室和生产线,质量控制,和教育事业,以评估的几何特征的材料,组件和结构和理化性质,*制造技术的驱动精益求精。X射线测厚仪原理
fischerscope xan250 XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。