菲希尔测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

菲希尔测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

菲希尔测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

FISCHERSCOPE X-RAY菲希尔x荧光分析仪特点

采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准，用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪

3种不同的探测器可选（Si-PIN二极管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²）

3种可切换基本滤片

4种可切换准直器

最小测量点约为0.15mm

样品最高高度可达14cm

可编程XY工作台，定位精度为10µm

开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板

经过认证的全面保护设备

FISCHERSCOPE X-RAY菲希尔x荧光分析仪应用

镀层和合金（也包括薄涂层和低浓度）的材料分析

电子行业，ENIG，ENEPIG

连接器和触点

黄金，珠宝和制表业

PCB制造薄金（几纳米）和钯镀层的测量

微量元素分析

高可靠性应用的铅（Pb）的测定（避免锡晶须）

对硬质材料涂层的分析

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。