Fischerscope XDL210菲希尔测厚仪

Fischerscope XDL210菲希尔测厚仪

Fischerscope XDL210菲希尔测厚仪

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。

X-RAY XUL/ XULM

X-RAY XAN 

X-RAY XAN 500 

X-RAY XDL/ XDLM

X-RAY XDAL 

X-RAY XDV SDD 

X-RAY XDV-μ / XDV-μ LD 

X-RAY XUV 773

无锡骏展仪器有限责任公司的产品和系统解决方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造、精密机械、模具加工、电子电力、铸造、冶金、航空航天、工程建设、大学和其他研究实验室和生产线,质量控制,和教育事业,以评估的几何特征的材料,组件和结构和理化性质,先进制造技术的驱动精益求精。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的应用领域有：

测量大规模生产的电镀部件

测量薄镀层，例如装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量，如测量印刷线路板

分析电镀溶液