品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 产地类别 | 进口 |
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应用领域 | 环保,化工,石油,能源,电子/电池 |
菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY测厚仪
菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY测厚仪
德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪介绍:
1、适用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。
2、频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。
3、能通过“应用工具箱"(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。
4、画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离,见背面)
5、图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中
6、对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞)
菲希尔荧光射线测厚仪特点
通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准
重量1.9 kg
一次电池充电可持续运行6个小时
测量点:3毫米Ø
高分辨率硅漂移检测器
用于户外的IP54等级
用作台式设备的可选测量箱;
使用完整版WinFTM®软件进行数据统计