菲希尔x荧光射线分析仪

菲希尔x荧光射线分析仪

菲希尔x荧光射线分析仪

FISCHERSCOPE-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔x射线分析仪特点

根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度

XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm

钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源

采用经实践验证的短测量时间的比例接收器

准直器：固定或4个自动切换

初级过滤器：固定或3个自动切换

固定样品台或手动XY载物台

用于光学观察测量点的摄像头

经认证的全面防护设计；

菲希尔x射线分析仪应用

电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护

电镀液中金属含量的分析

装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS

>电子行业连接器和触点上的镀层

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