菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDAL测厚仪

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDAL测厚仪

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDAL测厚仪

菲希尔x射线测厚仪特点

菲希尔x射线测厚仪根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度

XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm

钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源

采用经实践验证的短测量时间的比例接收器

准直器：固定或4个自动切换

初级过滤器：固定或3个自动切换

固定样品台或手动XY载物台

用于光学观察测量点的摄像头

经认证的全面防护设计；

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL的特点介绍

1、适用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。 

2、频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。 

3、能通过“应用工具箱"(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。 

4、画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）

5、图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 

6、对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)

菲希尔x射线测厚仪X-ray

菲希尔x-ray镀层分析仪/射线荧光镀层测厚材料分析仪/x射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237采用手动或自动方式，测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237菲希尔x-ray镀层分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。这款仪器是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的合适的测试仪器。

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