装饰性涂层厚度测量Cr/Ni/Cu/ABS菲希尔代理

装饰性涂层厚度测量Cr/Ni/Cu/ABS菲希尔代理

装饰性涂层厚度测量Cr/Ni/Cu/ABS菲希尔代理

菲希尔代理Fischer X射线荧光涂层测厚仪Fischer Scope X射线Xulm和Fischer Scope X射线Xulm XYM X射线光谱仪用于小零件涂层厚度的无损测量和成分分析。

菲希尔代理Fischer X射线荧光涂层测厚仪X射线XULM系列简介

装饰性涂层厚度测量为了在条件下进行每一次测量，XULM配备了各种准直器和可电动调节的基本滤光器。

比例接收器可以实现高计数率，从而可以进行高精度测量。由于采用了费歇尔基本参数法，涂层系统以及固体和液体样品都可以在没有标准件的情况下进行精确的分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。

XULM X射线谱仪具有良好的长期稳定性，因此无需频繁校准仪器。

菲希尔测厚仪该仪器特别适合客户进行质量控制、进货检验和生产过程监控。

菲希尔测厚仪典型的应用领域有:

FISCHERSCOPE XUL微小零件、连接器和电线涂层厚度的测量

FISCHERSCOPE XUL印刷电路板上的手动测量

菲希尔xul珠宝行业涂层厚度测量及成分分析

菲希尔X射线荧光涂层测厚仪的X射线XULM系列设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM是一系列桌面测量仪器，具有友好的界面和紧凑的结构。根据使用情况，有以下两种不同的版本和型号，分别对应不同的示例平台:

XULM:固定平台

XULM XYm:手动X/Y平台

具有强大放大功能的高分辨率彩色摄像机可以定位测量位置。

虽然仪器本身结构紧凑，但XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，因此可以测量更大的样品。

盖子底部留有间隙，可以方便地测量大尺寸的平板样品，如大面积的印刷电路板，超过测量室的尺寸。

通过功能强大、界面友好的WinFTM软件，可以在计算机上方便地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示。

XULM光谱仪是一种保护措施完善的测量仪器，其型式许可符合德国“Deutsche rntgenverordnung-RV"的要求。