菲希尔测厚仪

菲希尔测厚仪

菲希尔测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希代理尔测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY菲希代理尔测厚仪仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。
FIscherscope XAN500菲希代理尔测厚仪采用先进的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠FISCHER的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
使用XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。

德国菲希尔DUALSCOPE MPO涂层测厚仪技术参数
德国MPO 涂层测厚仪通常不必校正便可进行测量。
量 程：0～2000μm。
精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%(1000μm～2000μm)。
重复精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%(＞100μm)。
测量曲率直径：在精度范围内，铁基φ35mm，非铁基φ50mm；
(在允许误差＜10%时，铁基为φ10mm，非铁基为φ2mm)。
测量面积直径：φ4mm(在允许误差＜10%时，为φ2mm)。
基体厚度：铁基0.2mm（误差＜10%时）；非铁基0.09mm（误差＜10%时)。
重 量：60g（不含电池)。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
电 源：两节5号电池。MP0涂层测厚仪主机一台；铁、铝基体各一块；标准片一片；手提仪器盒；操作手册