品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,石油,能源,电子 |
菲希尔厂家
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Dualscope mpor涡流法
测量探头的激励电流产生高频主磁场,在基底材料中产生涡流。由此产生的二次磁场削弱了一次磁场。该效应是测量探针和基材之间的距离(涂层厚度),并使用存储在仪器中的探针特性将其转换为涂层厚度值。
菲希尔mpor应用
•在有色金属(如铝或不锈钢)上涂清漆或塑料涂层
•铝上的阳极氧化涂层
Fischer mpor放置支架的V型槽允许对圆柱形零件进行简单可靠的测量
fischer mpor磁感应法
dualscope mpor测量探头中的激励电流产生低频磁场,该磁场由与待测量涂层厚度对应的磁性基板材料放大。
菲希尔mpor使用存储在仪器中的探针特性,将记录该放大的测量线圈信号转换为涂层厚度值。
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磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢铁银镍.此种方法测量精度高。
涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低。
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