菲希尔X射线测厚仪Fischer代理

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。菲希尔X射线测厚仪它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，菲希尔X射线测厚仪同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

Fischerscope XDL230有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

Fischer X射线测厚仪由于采用了FISCHER*基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

无锡骏展仪器有限责任公司起源于美国,英国,德国和其他地区的合作伙伴,与全系列的产品资源和服务,光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、测量工具测量工具和其他类型的测试设备,努力为客户解决快速分析的测量技术挑战,联合提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。

菲希尔测厚仪

通用规格

设计用途能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF），用于测定镀层和溶液分析。

元素范围从元素氯（17）到铀（92）

配有可选的WinFTM®BASIC软件时，最多可同时测定24种元素

设计理念台式仪器，测量门向上开启

测量方向由上往下

X射线源

X射线管带铍窗口的钨管

高压三档：30KV，40KV，50KV

孔径（准直器）φ0.3mm　可选：φ0.1mm；φ0.2mm；长方形0.3mm x 0.05mm

测量点尺寸取决于测量距离及使用的准直器大小

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

小的测量点大小约φ0.2mm

X射线探测

X射线接收器比例接收器

测量距离0~80mm，使用保护的DCM测量距离补偿法

样品定位

视频系统高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置

手动聚焦，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）

可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品

放大倍数40x~160x

电器参数

电源要求200V，50Hz

功率大120W（不包括计算机）

保护等级IP40

尺寸规格

外部尺寸宽x深x高（mm）：570x760x650

内部测量室尺寸宽x深x高（mm）：460x495x（参考“样品大高度"部分的说明）

重量107KG

环境要求

使用时温度10℃~40℃

存储或运输时温度0℃~50℃

空气相对湿度≤95%　无结露

工作台

设计手动X/Y平台

X/Y平台大移动范围92x150mm

可用样品放置区域420x450mm

Z轴马达驱动

Z轴移动范围140mm

样品大重量20KG

样品大高度140mm

激光（1级）定位点有

计算单元

计算机带扩展卡的Windows®计算机系统

软件标准：WinFTM®V.6 LIGHT

可选：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER

执行标准

CE合格标准EN 61010

型式许可作为受*保护的仪器

型式许可*符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定