X荧光射线测厚仪

X荧光射线测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XULM菲希尔X射线测厚仪是性能好、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。Fischerscope X-ray常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

Fischerscope X-ray菲希尔X射线测厚仪是用户界面友好的台式测量仪, 配备手动XY轴工作台，用于细小样品的精确定位。

Fischerscope X-ray XULM240菲希尔X射线测厚仪具备4个可切换准直器, 3个可切换基本滤片, 采用比例接收器, 高分辨率CCD彩色摄像头，手动聚焦，LED亮度可调节

Fischerscope X-ray菲希尔X射线测厚仪使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度≤95%，无结露

X荧光射线测厚仪

已被证明的无损测厚仪：移动厚度测量的FMP系列。超过70个可选探头，您将找到适合大多数测量任务的正确解决方案。不同的测试方法保证了钢材上涂层厚度和有色金属上涂层厚度的精确测量。手持测厚仪的FMP10到FMP40系列，为您提供最大的灵活性，满足测厚需求。 

我们提供以下型号：DELTASCOPE®磁感应法、ISOSCOPE®涡流法和DUALSCOPE®磁感应法和涡流法两用。