SURTRONIC S116粗糙度仪

SURTRONIC S116粗糙度仪

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116测试参数：

三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器：2CR、Gaussian

评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

大行程：17.5mm

泰勒霍普森粗糙度仪测试速度：

泰勒霍普森粗糙度仪测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

泰勒霍普森粗糙度仪回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

泰勒霍普森粗糙度仪测试参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

SURTRONIC S116粗糙度仪

SURTRONIC S116比SURTRONIC25有如下改进：

1、电池由碱性9V改为锂电充电电池；

2、显示屏为触摸屏；

3、可以显示测试图形；

4、SURTRONIC25只能测试10个参数，S116在不同标准下可以测量12、11、14个参数（见技术参数）；

5、原来SURTRONIC25使用电位器校准测试结果，现在改为自动软件校准。方便使用；

6、显示屏显示的结果（数据和图形）可以旋转，可以方便的从四个方向观察测试结果；

7、仪器底部为V形，测试轴类部件方便可靠；

8、测试数据存储增加了存储图形功能；

9、可以使用U盘直接存储，一个4G容量U盘可存储3.9万个图形，数据可以存储70批次，每批次为10万个测试数据。