SURTRONIC S128、泰勒信息

SURTRONIC S128是英国泰勒霍普森 (Taylor Hobson) 公司推出的便携式表面粗糙度测量仪，属于 Surtronic S100 系列，是经典型号 Surtronic 25 的升级版。作为该系列的型号，S128 相比 S116 提供了更宽的测量范围和更强的分析能力，被誉为 "移动实验室级" 的表面粗糙度测量解决方案。

核心特点与技术参数

测量能力

测量范围：400μm/100μm/10μm 三档可选（S116 仅 200μm/100μm/10μm）

分辨率：50nm/10nm/5nm，能捕捉微小表面纹理变化

测量参数：可测30 多种国际标准参数，包括：

基础参数：Ra (算术平均粗糙度)、Rz (十点高度)、Rt (轮廓高度)

功能参数：Rsk (偏态系数)、Rku (峰态系数)、Rmr (材料比曲线)

精度：Ra 测量误差≤±(2%+0.004μm)，单次测量误差≤±3%

便携与耐用设计

尺寸：约 150×85×55mm，重量仅 650g（含电池），一手掌握

防护：抗冲击橡胶机身，适合车间恶劣环境

显示屏：4.3 英寸彩色触摸屏，操作直观

电池：内置锂电池，一次充电可测 2000 次，待机 5000 小时