产品中心您的位置：网站首页 > 产品中心 > 泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度仪 > 泰勒霍普森粗糙度仪 > 泰勒霍普森白光干涉仪TAYLOR

泰勒霍普森白光干涉仪TAYLOR

更新时间：2024-04-15

访问量：461

厂商性质：代理商

生产地址：

简要描述：

泰勒霍普森白光干涉仪TAYLOR，talysurf CCI三维非接触形貌仪采用CCI（技术的相干相关算法）干涉原理，可高精度测量表面形貌、表面粗糙度及关键尺寸，并计算关键部位的面积和体积。主要应用于数据存储器件，半导体器件，光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域。

在线询价联系我们

产品介绍：

品牌	TaylorHobson/英国泰勒霍普森	价格区间	面议
产地类别	进口	应用领域	环保,生物产业,石油,制药,综合

泰勒霍普森白光干涉仪TAYLOR

仪器简介：
Talysurf CCI三维非接触形貌仪采用CCI（技术的相干相关算法）干涉原理，可高精度测量表面形貌、表面粗糙度及关键尺寸，并计算关键部位的面积和体积。主要应用于数据存储器件，半导体器件，光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域。
技术参数：
(1) 类型： CCI 干涉（相干相关干涉）
(2) 分辨率： 0.1 A
(3) 测量点数： 1,048,576 ( 1024 x 1024 点阵 )
更详细参数和有关应用问题请垂询办事处产品负责人。
主要特点：
•相干相关算法
•0.01nm分辨率
•10-20秒测量时间
•RMS重复性：0.03A

泰勒霍普森白光干涉仪TAYLOR

返回列表返回顶部

上一篇 : TAYLOR HOBSON圆柱度仪

下一篇 : minitest2100 epk

相关产品：

泰勒霍普森白光干涉仪TAYLOR

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：