x荧光射线fischerscope x-ray xdlm 232

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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

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仪器简介：

适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能

频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用

能通过“应用工具箱"(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化

画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）

图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中

对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)

测量模式用于：单、双及三层镀层系统

x-ray xdlm 232

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