| 品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,石油,能源,电子/电池 |
菲希尔测厚仪Feritscope X-RAY XDLM237
x射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237设计理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237设计为界面友好的台式测量仪器系列，配备了马达驱动的X/Y工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程Z轴升降系统。
高分辨率的彩色视频摄像头可方便定位测量位置。配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的调整。
所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM软件在电脑上完成。
XDLM237型镀层测厚及材料分析仪*DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准，型式许可符合德国“Deutsche Rntgenverordnung-RV"法规规定。
为每次测量创造理想的激发条件，仪器配备可电动调整的多个准直器和基本滤片。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系统有着出色的性和良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，节省时间和精力。
由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。
菲希尔测厚仪Feritscope X-RAY XDLM237
x射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237参数规格：
通用规格
设计用途 | 能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构， 分析合金和微量组分。 |
元素范围 | 从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM BASIC软件时，zui多可同时测定24种元素 |
形式设计 | 台式仪器，测量门向上开启 |
测量方向 | 从上到下 |
X射线源
X射线管 | 带铍窗口的微聚焦钨管 |
高压 | 三档： 30 kV，40 kV，50 kV |
孔径（准直器） 标准（523-440） 可选（523-366） 可选（524-061） | 4个可切换准直器 [mm]: 0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: 0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: 0.1, 0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制 |
基本滤片 | 3种可切换的基本滤片（标准配置：镍，铝，无） |
测量点 | 取决于测量距离及使用的准直器大小， 实际的测量点大小与视频窗口中显示的测量点大小: 光圈约 0.1 mm（选用准直器0.05x0.05 mm时） |
苏公网安备32021402002647
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