Couloscope CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪

 Couloscope CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪

Couloscope CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪

Couloscope CMS2 STEP简介：
CouloScope CMS STEP在电镀行业中，对多层镍镀层中各自层的同时的厚度和电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求。的多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度，并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护。 COULOSCOPE CMS STEP多层镍测厚仪器根据库仑电量分析法进行测量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764标准
 通过电位差测试仪器可以简便的对镍镀层之间的电化学的电位差进行测量。 可以用于测量铜基层、镍多层涂层和铬涂层的厚度。
 COULOSCOPE CMS STEP可以通过定位于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。

SIGMASCOPE SMP350测量原理
SIGMASCOPE SMP350根据涡流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 测量电导率。 这种方法允许无接触测量，即使隔着油漆或者厚达500μm的塑料涂层，这种方法也几乎不受表面粗糙度的影响。为了电导率测量中的自动温度补偿，被测工件上的当前温度既可以通过探头ES40内置的温度传感器，也可以通过可选的外部传感器测得。
为了适应测量航空工业中厚度仅为0.2mm的非常薄的铝镀层的电导率，可以选用SIGMASCOPE SMP10-HF ，与探头ES40-HF相配时为1.25 MHz。
应用
铝，铜加工工业中的电导率测试。
在航空航天和汽车工业中，监控热处理过程，锻铝合金的强度和硬度。