Phascope PMP10 Duplex涡流相敏测厚仪

       DELTASCOPEFMP10规格

　　Phascope PMP10 Duplex涡流相敏测厚仪配备有一个*的和便于读取的60x30mm（2.4"x1.2"））液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，以及显示操作模式和设置的图标和符号，2行文本各16个字母或可自由选择的符号用于显示数据和操作员提示用于测量非磁性涂镀层例如：铬、铜、锌、油漆、搪瓷或塑料在铁基材上的厚度。

　　PhascopePMP10Duplex涡流相敏测厚仪的应用：菲希尔MP10磁感应涂层测厚仪采用根据DINENISO2178,ASTMB499标准的电磁感应方法，根据电磁感应（DINENISO2178）原理，采用微处理器控制的便携式涂镀层测量仪。

     Phascope PMP10 Duplex涡流相敏测厚仪的应用领域测量大规模生产的电镀零件防腐镀层和装饰性镀层，如镍/铜上的铬电镀工业中电镀液的分析黄金、珠宝和钟表工业，德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPEXDL应用实例：XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如或突起，测量这些区域必须使用很小的准直器或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品时，就要使用开槽的准直器以获得大的信号强度。

　　FISCHERSCOPEX-RAYXDL和XDLM系列与XUL和XULM系列密切相关：两者都使用相同的接收器，准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。

　　XDLM型号的X射线源采用微聚焦管，可以测量细小的部件，对低辐射组分有较好的激励作用。此外，XDLM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造的激励条件。