菲希尔库伦法膜厚仪cms2

 菲希尔库伦法膜厚仪cms2

菲希尔库伦法膜厚仪cms2

在电镀行业中，对多层镍镀层中各自层的同时的厚度和电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求。的多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层?reg;间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度，并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护。
COULOSCOPE® CMS STEP可以通过定位于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。
COULOSCOPE CMS电解多镀层库仑法测厚仪可用于测量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金属
基材可为 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金属材料等

COULOSCOPE CMS2 STEP多层镍电位差测厚仪

COULOSCOPE CMS2 STEP多层镍电位差测厚仪

用于质量控制的库仑法镀层厚度测量
在一定的厚度以上，X射线荧光对镀层的无损测量达到了限，这就是COULOSCOPE CMS2发挥作用的地方。它用库仑法测量多种金属镀层的厚度，这是做相当简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2可以准确地测量许多常见的单层和多层镀层。

菲希尔铁素体测定仪MP30E-S/铁素体含量测定仪MP30测量原理：
磁导原理。铁素体含量是通过磁导率确定。主要性能参数是通过在实验室里大量实验样件的基础上得到，并存储在仪器内。
通过正确校准标准试块测量铁素体含量，测量的精度得到改进、提高。
铁素体测定仪MP30E-S/铁素体含量测定仪MP30仪器特点
仪器小巧、便携
无损测量，简便、快速、准确，适用于复杂的几何形状工件
大而易读的液晶显示屏，可显示最大值、最小值、平均值、标准偏差、测量参数及日前和时间
测量单位WRC-FN和Fe%可互换
五种显示语言
上下限报警
RS232接口