费希尔江苏代理测厚仪XDLM231

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进入自动化测量世界费希尔江苏代理

菲希尔XDLM231FISCHERSCOPE X-射线 XDL和XDLM光谱仪与 XUL 系列密切相关。主要组件（例如探测器，X射线管和滤波器组合）是相同的，但两者有一个显着的区别：XDL和XDLM设备是从上到下进行测量，这意味着可以方便地分析非平面样品-复杂形状不再是难题！费希尔江苏代理

菲希尔XDLM231自上而下的测试方式还有另一个优点：可以很容易地实现自动测量。 XDL240和XDLM237配备了可编程的样品台，非常适合扫描样品表面。 因此，您可以检查较大部件上的镀层厚度，或自动逐个测量大量的小部件。
与XUL系列一样，XDLM中的“ M"代表“微聚焦管"。 这意味着这些设备特别适合分析小样品。 XDLM的测量点直径仅为0.1毫米，非常适合电子行业。费希尔江苏代理

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菲希尔测厚仪两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点,由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率,确保良好的重复精度。比较XUL和XUM仪器而言, XDL和XDLM系列仪器测星测星方向从.上到下。它们被设计为用户友好的台式机,使用模块化结构,也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。
菲希尔测厚仪配备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它可以很方便地扫描表面,这样就可以检查其均匀性。为了简单快速定位样品，当测量门开启时, XY工作台自动移动到加载位置,同时激光点指示测星点位置。对于大而平整的样品,例如线路板,壳体在侧面有开口(C形槽)。由于测星室空间很大,样品放置方便，仪器不仅可以测量平面平整的物体,也可以测星形状复杂的大样品(样品高度可达140mm)。Z轴可电动调整的仪器，测量距离还可以在0 - 80 mm的范围内自由选择,这样就可以测星腔体内部或表面不平整的物体(DCM方法)。