Fischerscope XDLM232 x射线测厚仪

Fischerscope XDLM232 x射线测厚仪

Fischerscope XDLM232 x射线测厚仪

菲希尔x荧光分析仪FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM x射线荧光镀层测厚和材料分析仪：
菲希尔x荧光分析仪FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM仪器是普遍适用的能量色散X射线光谱仪。 它们构成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列开发的下一步。 像它们的前辈一样，它们特别适合于无损厚度测量和薄涂层分析以及批量生产的零件和印制板上的自动测量。有三个型号：XDLM 231具有平面支撑台，XDLM 232具有手动操作的X / Y台。 XDLM 237配备了一个电动X / Y平台，当打开防护罩时，该平台会自动移到装载位置。Fischerscope XDLM232

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。
XDLM 231型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。
XDLM 232型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。
XDLM 237型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。