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FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希尔x射线测厚仪

更新时间:2022-03-31

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厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希尔x射线测厚仪,菲希尔涂层测厚仪,现货供应,产品质量优价格好。
品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,石油,能源,电子

 FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希尔x射线测厚仪

FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希尔x射线测厚仪

FISCHERSCOPE XDV-µ的特点
同时测量从Al(13)到U(92)的多达24个元素,XDV-μLD:S(16)-U(92)
菲希尔x射线测厚仪先进的多毛细管光学系统,可将X射线束聚焦到10μm(FWHM),用于微结构测量
菲希尔x射线测厚仪可编程XY工作台和模式识别,用于多个样品的自动测量
扩展样品台方便样品的定位
向导式校准过程
稳健设计适合长期使用
光学显微镜(放大270倍),显示图像和激光定位点,可显示精确的测量点
无需校准即可进行测量的基本参数分析
符合IPC-4552A、4553A、4554和4556,ASTM B568,ISO 3497标准
Fischer的认证标准片可追溯到基本单位
菲希尔XDV-µ应用
菲希尔XDV-µ微米和纳米范围内的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni镀层
组装和未组装电路板
纳米范围内的基底金属化层(bump metallization,UBM)的测试
测量轻元素,例如 测量金和钯下的磷含量(在ENEPIG和ENIG中)
铜柱上的无铅焊料盖
测试C4和较小焊点的元素组成,以及半导体行业中的小接触面

 

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