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菲希尔X荧光射线测厚仪XAN215

更新时间:2022-09-06

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厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
菲希尔X荧光射线测厚仪XAN215,fischerscope xan215测厚仪,和XUL系列一样,FISCHERSCOPE X射线XAN仪器非常适合分析简单形状的样品。然而,XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,石油,能源,电子

菲希尔X荧光射线测厚仪XAN215

菲希尔X荧光射线测厚仪XAN215

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度,从元素氯(17)到铀(92),多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样,减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的完全基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

设计用途采用能量色散型X射线荧光光谱法(EDXRF),用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度

元素范围从元素氯(17)到铀(92),多可同时测定24种元素。

重复性测量金元素时≤1‰,测量时间60秒

形式设计台式仪器,测量门向上开启

测量方向由下往上

X射线源

X射线管带铍窗口的钨靶射线管

高压三档:30KV,40KV,50KV

孔径(准直器)φ1mm;可选φ2mm

测量点尺寸当测量距离MD=0mm时,测量点直径=孔径直径+200μm

X射线探测

X射线探测器采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器

能量分辨率(Mn元素Kα半高宽)≤180eV

测量距离0...10mm

通过受保护的DCM测量距离补偿法,可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量;对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量,可能需要进行额外的校准。

样品定位

样品放置手动

视频系统高分辨率CCD彩色摄像头,可沿着初级X射线光束方向,手动焦距,对被测位置进行监控

十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸),可调节亮度的LED照明

图像发达倍数40x~160x

工作台

形式设计固定工作台

样品放置可用区域310x320mm

样品大重量 13KG

样品高高度90mm

电气参数

电源要求AC 220V 50Hz

功耗大120W(不包括计算机)

保护等级IP40

尺寸规格

外部尺寸(宽x深x高)403x588x365mm

重量大约45KG

环境要求

使用时温度10℃~40℃

存储或运输时温度0℃~50℃

空气相对湿度≤95%,无结露

计算单元

计算机   Windows®-PC

软件标准:Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能

可选:Fischer WinFTM®

执行标准

CE合格标准EN 61010

X射线标准DIN ISO 3497 和ASTM B 568

形式批准 符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定



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