菲希尔X荧光射线测厚仪XAN215

菲希尔X荧光射线测厚仪XAN215

菲希尔X荧光射线测厚仪XAN215

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

设计用途采用能量色散型X射线荧光光谱法（EDXRF），用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度

元素范围从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。

重复性测量金元素时≤1‰，测量时间60秒

形式设计台式仪器，测量门向上开启

测量方向由下往上

X射线源

X射线管带铍窗口的钨靶射线管

高压三档：30KV，40KV，50KV

孔径（准直器）φ1mm；可选φ2mm

测量点尺寸当测量距离MD=0mm时，测量点直径=孔径直径+200μm

X射线探测

X射线探测器采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器

能量分辨率（Mn元素Kα半高宽）≤180eV

测量距离0...10mm

通过受保护的DCM测量距离补偿法，可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量；对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量，可能需要进行额外的校准。

样品定位

样品放置手动

视频系统高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线光束方向，手动焦距，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），可调节亮度的LED照明

图像发达倍数40x~160x

工作台

形式设计固定工作台

样品放置可用区域310x320mm

样品大重量 13KG

样品高高度90mm

电气参数

电源要求AC 220V 50Hz

功耗大120W（不包括计算机）

保护等级IP40

尺寸规格

外部尺寸（宽x深x高）403x588x365mm

重量大约45KG

环境要求

使用时温度10℃~40℃

存储或运输时温度0℃~50℃

空气相对湿度≤95%，无结露

计算单元

计算机   Windows®-PC

软件标准：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能

可选：Fischer WinFTM®

执行标准

CE合格标准EN 61010

X射线标准DIN ISO 3497 和ASTM B 568

形式批准 符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定