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菲希尔x射线测厚仪代理

更新时间:2022-04-06

访问量:91

厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
菲希尔x射线测厚仪代理,fischer测厚仪,适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,石油,能源,电子

菲希尔x射线测厚仪代理

菲希尔x射线测厚仪代理

X射线荧光分析法 (XRFA):

能量散射X射线荧光光谱法(EDXRF)作为镀层厚度测量和材料分析的方法,可用来定量和定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中,这一方法都能*胜任,并还可以与现代化设备一起发挥作用。

X射线荧光法(XRFA)的优点:

快速无损的镀层厚度测量(单层或多镀层)

分析固态,粉末或液态样品

有害物痕量分析

高精度和准确度

十分广泛的应用

准确测量基材是磁性和导电的材料

样品制备非常简单

测试方法安全,没有使用危害环境的化学制品

无耗品,物超所值

菲希尔xan215参数

设计用途

采用能量色散型X射线荧光光谱法(EDXRF),

用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度

元素范围从元素氯(17)到铀(92),多可同时测定24种元素。
重复性测量金元素时≤1‰,测量时间60秒
形式设计台式仪器,测量门向上开启
测量方向由下往上
X射线源
X射线管带铍窗口的钨靶射线管
高压三档:30KV,40KV,50KV
孔径(准直器)φ1mm;可选φ2mm
测量点尺寸当测量距离MD=0mm时,测量点直径=孔径直径+200μm
X射线探测
X射线探测器采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器

能量分辨率

(Mn元素Kα半高宽)

≤180eV
测量距离0...10mm
通过受保护的DCM测量距离补偿法,可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量;对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量,可能需要进行额外的校准。
样品定位
样品放置手动
视频系统高分辨率CCD彩色摄像头,可沿着初级X射线光束方向,手动焦距,对被测位置进行监控
十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸),可调节亮度的LED照明
图像发达倍数40x~160x
工作台
形式设计固定工作台
样品放置可用区域310x320mm
样品大重量
13KG
样品高高度90mm
电气参数
电源要求AC 220V 50Hz
功耗大120W(不包括计算机)
保护等级IP40
尺寸规格
外部尺寸(宽x深x高)403x588x365mm
重量大约45KG
环境要求
使用时温度10℃~40℃
存储或运输时温度0℃~50℃
空气相对湿度≤95%,无结露
计算单元
计算机
Windows®-PC
软件标准:Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
可选:Fischer WinFTM®
执行标准
CE合格标准

EN 61010

X射线标准DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批准
符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定

X-RAY XDV-µ.jpg

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