品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,石油,能源,电子/电池 |
菲希尔x射线测厚仪代理
菲希尔x射线测厚仪代理
X射线荧光分析法 (XRFA):
能量散射X射线荧光光谱法(EDXRF)作为镀层厚度测量和材料分析的方法,可用来定量和定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中,这一方法都能*胜任,并还可以与现代化设备一起发挥作用。
X射线荧光法(XRFA)的优点:
快速无损的镀层厚度测量(单层或多镀层)
分析固态,粉末或液态样品
有害物痕量分析
高精度和准确度
十分广泛的应用
准确测量基材是磁性和导电的材料
样品制备非常简单
测试方法安全,没有使用危害环境的化学制品
无耗品,物超所值
菲希尔xan215参数
设计用途 | 采用能量色散型X射线荧光光谱法(EDXRF), 用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度 |
元素范围 | 从元素氯(17)到铀(92),多可同时测定24种元素。 |
重复性 | 测量金元素时≤1‰,测量时间60秒 |
形式设计 | 台式仪器,测量门向上开启 |
测量方向 | 由下往上 |
X射线源 | |
X射线管 | 带铍窗口的钨靶射线管 |
高压 | 三档:30KV,40KV,50KV |
孔径(准直器) | φ1mm;可选φ2mm |
测量点尺寸 | 当测量距离MD=0mm时,测量点直径=孔径直径+200μm |
X射线探测 | |
X射线探测器 | 采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 (Mn元素Kα半高宽) | ≤180eV |
测量距离 | 0...10mm |
通过受保护的DCM测量距离补偿法,可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量;对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量,可能需要进行额外的校准。 | |
样品定位 | |
样品放置 | 手动 |
视频系统 | 高分辨率CCD彩色摄像头,可沿着初级X射线光束方向,手动焦距,对被测位置进行监控 |
十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸),可调节亮度的LED照明 | |
图像发达倍数 | 40x~160x |
工作台 | |
形式设计 | 固定工作台 |
样品放置可用区域 | 310x320mm |
样品大重量 | 13KG |
样品高高度 | 90mm |
电气参数 | |
电源要求 | AC 220V 50Hz |
功耗 | 大120W(不包括计算机) |
保护等级 | IP40 |
尺寸规格 | |
外部尺寸(宽x深x高) | 403x588x365mm |
重量 | 大约45KG |
环境要求 | |
使用时温度 | 10℃~40℃ |
存储或运输时温度 | 0℃~50℃ |
空气相对湿度 | ≤95%,无结露 |
计算单元 | |
计算机 | Windows®-PC |
软件 | 标准:Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
可选:Fischer WinFTM® | |
执行标准 | |
CE合格标准 | EN 61010 |
X射线标准 | DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
形式批准 | |
符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定 |
无锡骏展仪器有限责任公司在以下领域具有*的优势:
1. 为机械加工、*制造、新材料应用、科研等前沿产业提供更新的检测设备和检测技术;
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