| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,石油,能源,电子 |
菲希尔x射线测厚仪代理
菲希尔x射线测厚仪代理
X射线荧光分析法 (XRFA)：
能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能*胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。
X射线荧光法（XRFA）的优点：
快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）
分析固态，粉末或液态样品
有害物痕量分析
高精度和准确度
十分广泛的应用
准确测量基材是磁性和导电的材料
样品制备非常简单
测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品
无耗品，物超所值
菲希尔xan215参数
| 设计用途 | 采用能量色散型X射线荧光光谱法（EDXRF）， 用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度 |
| 元素范围 | 从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。 |
| 重复性 | 测量金元素时≤1‰，测量时间60秒 |
| 形式设计 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| 测量方向 | 由下往上 |
| X射线源 | |
| X射线管 | 带铍窗口的钨靶射线管 |
| 高压 | 三档：30KV，40KV，50KV |
| 孔径（准直器） | φ1mm；可选φ2mm |
| 测量点尺寸 | 当测量距离MD=0mm时，测量点直径=孔径直径+200μm |
| X射线探测 | |
| X射线探测器 | 采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 （Mn元素Kα半高宽） | ≤180eV |
| 测量距离 | 0...10mm |
| 通过受保护的DCM测量距离补偿法，可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量；对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量，可能需要进行额外的校准。 | |
| 样品定位 | |
| 样品放置 | 手动 |
| 视频系统 | 高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线光束方向，手动焦距，对被测位置进行监控 |
| 十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），可调节亮度的LED照明 | |
| 图像发达倍数 | 40x~160x |
| 工作台 | |
| 形式设计 | 固定工作台 |
| 样品放置可用区域 | 310x320mm |
| 样品大重量 | 13KG |
| 样品高高度 | 90mm |
| 电气参数 | |
| 电源要求 | AC 220V 50Hz |
| 功耗 | 大120W（不包括计算机） |
| 保护等级 | IP40 |
| 尺寸规格 | |
| 外部尺寸（宽x深x高） | 403x588x365mm |
| 重量 | 大约45KG |
| 环境要求 | |
| 使用时温度 | 10℃~40℃ |
| 存储或运输时温度 | 0℃~50℃ |
| 空气相对湿度 | ≤95%，无结露 |
| 计算单元 | |
| 计算机 | Windows®-PC |
| 软件 | 标准：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
| 可选：Fischer WinFTM® | |
| 执行标准 | |
| CE合格标准 | EN 61010 |
| X射线标准 | DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
| 形式批准 | |
| 符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定 | |
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1. 为机械加工、先进制造、新材料应用、科研等前沿产业提供更新的检测设备和检测技术;
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3.为客户提供车间、实验室所需的各种检测仪器，并提供技术支持、维护和维修服务。
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