Fischer荧光射线测厚仪XAN252

Fischer荧光射线测厚仪XAN252

Fischer荧光射线测厚仪XAN252

菲希尔XAN252高性能X射线荧光测量仪，配有硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

菲希尔XAN252特点

菲希尔XAN252高性能机型，具有强大的综合测量能力

fischer XAN252配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片

fischer XAN252配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析

fischer XAN252由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位  

菲希尔荧光射线测厚仪典型应用领域

菲希尔荧光射线测厚仪对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量

菲希尔荧光射线测厚仪对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量

fischer代理在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析

fischer代理用于高校研究和工业研发领域 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

Fischer XAN500采用*的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠FISCHER的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

使用Fischer XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。