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半导体涂层厚度测量菲希尔x射线测厚仪

更新时间:2022-04-15

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厂商性质:代理商

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简要描述:
半导体涂层厚度测量菲希尔x射线测厚仪,菲希尔x射线测厚仪,可以测量多种镀层厚度。
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,石油,能源,电子

半导体涂层厚度测量菲希尔x射线测厚仪

半导体涂层厚度测量菲希尔x射线测厚仪

菲希尔x射线测厚仪特点

菲希尔x射线测厚仪根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析,镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪

菲希尔x射线测厚仪半导体检测器(PIN和SDD) 确保出色的检测精度和高分辨率

XAN 250和252:用于测量铝,硅或硫之类的轻元素;

准直器:固定或4种可切换,最小测量点约为0.3mm

半导体涂层厚度测量基本滤片:固定或6种可切换

半导体涂层厚度测量固定样品支架或手动XY载物台

半导体涂层厚度测量摄像头可轻松定位最佳测量位置

样品高度最多17厘米;

菲希尔测厚仪特点:

  菲希尔XAN250高性能机型,具有强大的综合测量能力;

  菲希尔XAN250配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片;

  菲希尔XAN250配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),还适用于更复杂的多元素分析;

  由下至上的测量方向,可以非常简便地实现样品定位。  

菲希尔测厚仪典型应用领域:

  fischer xan250对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量;

  fischer xan250对有害物质进行痕量分析,例如,玩具中的铅含量;

  fischer xan250在珠宝和手表业,以及在金属精炼领域,对合金进行高精度的分析;

  用于高校研究和工业研发领域。

菲希尔xan250


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