X射线荧光分析法菲希尔x射线测厚仪

X射线荧光分析法菲希尔x射线测厚仪

X射线荧光分析法菲希尔x射线测厚仪

菲希尔x射线测厚仪能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。菲希尔测厚仪

菲希尔x射线测厚仪EDXRF作为一种常用测试方法，有着其突出的优势。它几乎可以测量所有工艺相关元素，并且工作时无损且不接触样品。测量时间一般在数秒钟内，很少多于一分钟。通常不需要复制的样品制备，即可进行快速测量。利用该方法，可以同时测量均质材料及镀层的厚度和化学成分。不仅如此，EDXRF方法检测各种类型样品里的微量有害物质。

此外，X射线荧光分析是一种清洁的测量方法，测量过程不使用任何化学制品。由于有着合理精巧的设计，X射线不会对操作人员和环境构成任何威胁：菲希尔X射线仪器是绝对安全可靠的。菲希尔测厚仪

X射线荧光分析法原理菲希尔测厚仪

菲希尔x射线测厚仪X射线荧光分析基于以下物理现象：样品材料中的原子由于受到初级X射线轰击，从而失去内层轨道中的某些电子。失去电子所留下的空穴会被外层电子来填补，在填补的过程中，会产生每个元素*的特征X射线荧光。接收器探测到该荧光射线后，便能提供样品的材料组成等信息。

DELTASCOPE FMP10或菲希尔FMP30可测量铁或钢上非铁磁性金属涂层的厚度，如铬、铜、锌、油漆、涂料、搪瓷和塑料涂层。

DELTASCOPE FMP10测厚仪展示了新菲舍尔FMP系列手持式仪器的测量技术。该仪器由坚固耐用的材料制成，具有简单友好的用户界面，可以与可更换的探头一起使用，以满足不同用户的所有测量要求。他们可以计算和显示重要的值和数据。您的测量结果可以和校准信息一起以应用程序的形式存储在仪器中，保证您每天都能方便、快捷、准确、可靠地使用。