EPK MINITEST740

EPK MINITEST740

EPK MINITEST740

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪

EPK涂层测厚仪创新的SIDSP(探头中的数字信号处理)技术提高了测量精度。

EPK涂层测厚仪测量范围为15毫米，F、N或FN探头可更换为内部或外部探头。

FN探头可自动识别F(铁磁)或N(非磁)基体，操作简单，*。

EPK涂层测厚仪SIDSP技术-智能数字涂层厚度测量探头技术

模拟信号处理的时代已经过去，数字信号处理将成为未来的趋势。

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪使用的SIDSP是什么？

 MINITEST740 SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)开发的，世界涂层厚度测量探头技术。EPK这项技术为涂层厚度测量领域的创新奠定了新的标准。

 MINITEST740 SIDSP是探头内部的数字信号处理。这项技术使探头能够在测量时将信号*处理成数字形式。SIDSP探头*按照world 技术制造。

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪SIDSP的工作原理？

与传统技术不同的是，SIDSP在探头顶端产生并控制激励信号，返回的信号经过32位数字转换处理，为您带来准确的涂层厚度值。这种数字处理技术也应用于现代通信技术(手机网络)，如数字滤波、基带转换、平均值、随机分析等等。与模拟信号处理相比，这种技术可以获得更好的信号质量和精确度。厚度值通过探针电缆以数字方式传输到显示设备。

与普通模拟探头相比，SIDSP探头具有决定性的优势，树立了涂层厚度测量的新标准。