FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

fischerscope xan500菲希尔x射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

菲希尔x射线测厚仪fischerscope XAN500采用先进的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠FISCHER的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

使用fischerscope XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。

菲希尔x射线测厚仪特点

菲希尔x射线测厚仪通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准

重量1.9 kg

一次电池充电可持续运行6个小时

测量点：3毫米Ø

高分辨率硅漂移检测器

用于户外的IP54等级

用作台式设备的可选测量箱；

使用完整版WinFTM®软件进行数据统计