Elektrophysik超声波涂层测厚仪

Elektrophysik超声波涂层测厚仪

QuintSonic 7 EPK超声波测厚仪成为理想的现场、实验室或者车间测量的工具。QuintSonic 7在汽车制造业、手工业等需要高精度测量

QuintSonic 7 Elektrophysik超声波涂层测厚仪另一功能：可透过涂层测量薄的基材厚度。

EPK涂层测厚仪工作原理是基于超声波反射, Quint Sonic 7智能探头发出的超声波脉冲进入覆层后，脉冲传输到覆层结合面或与底材临界来. 这些反射的超声波脉冲被传感器接收，通过声波在介质中传输的速度计算出覆层的厚度。QuintSonic 7的突出功感技术和创新的软件实现了在应用时高精度测量，在此之前是无法实现的。

QSoft软件可以显示测量时A型扫描图像，这样可得到更加准确的数据。参数设置用于定义测量范围，抗干扰，回波诊过设置的截止带可以将杂波排除掉，例如由基材GRP 或CRP 纤维造成的杂波。

EPK超声波涂层测厚另外一个难点是测量具有相似特征的涂层厚度。这些涂层的阻抗值之差不足以区分反馈的超声波脉冲。Elektrophysik QuintSonic7，较弱的脉冲信号可以很明显的区分开。因此，可以可靠，准确地完成复杂的测量任务。

EPK QuintSonic 7性能特点：

EPK测厚仪仅在一个操作中测量多层系统的总厚度以及单层厚度。 一次操作中zui多可以测量5层。

Elektrophysik测厚仪高精度和重复性。

测量值的存储和记录。

内存容量：zui多300批次约25,000次读数。

涂层厚度测量从10μm。

能够确定的层厚度或GRP和CRP组分。

A-scan图像功能，无需连接到PC。

可以通过涂层测量薄的基材。

用于实验室，生产和现场使用的稳健的测量计。

当超出限制时，限制光学和声学警告设置。

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