菲希尔X射线测厚仪XUL220信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XUL220测量原理

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XUL220采用 X 射线荧光（XRF）技术，通过 X 射线激发样品表面，分析镀层厚度及材料成分。比例接收器实现高计数率，确保高精度测量，尤其适用于超薄镀层（如 80nm 金镀层）的检测。

硬件配置

手动 XY 轴工作台：支持 ±50mm 范围内的精细移动，可精确定位微小区域（如 PCB 焊点），并适配大型工件。

高分辨率 CCD 摄像头：实时显示测量区域，叠加校准刻度和十字线，辅助定位并减少人为误差。

可调 LED 光源：优化不同材质表面的成像效果，提升测量准确性。

超大测量室：内部尺寸 240×360×380mm，可容纳大型工件，如汽车连接器或电器元件。

测量能力

镀层系统：支持单 / 双 / 三层镀层（如 Zn/Fe、Ni/Cu/ABS）及双元 / 三元合金镀层（如 ZnNi、CuSn）的厚度测量与成分分析。

材料分析：可检测电镀液中金属离子含量（如 Au、Ni、Cu），并对珠宝等贵金属进行无损金含量分析。