品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,石油,能源,电子 |
Fischer x射线测厚仪
Fischer x射线测厚仪
适合各种应用的合适设备
和XUL系列一样,FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器非常适合分析简单形状的样品。然而,XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度,还可以分析合金(例如铜)的成分。
XAN系列总共包括5款台式XRF光谱仪,涵盖广泛的应用范围。XAN215具有经济高效的PIN检测器。非常适合简单的镀层厚度任务,例如铁上的锌层或Au/Ni/Cu。对于更复杂的合金或贵金属应用,我们建议使用带有硅漂移检测器SDD的设备(例如XAN220):由于其分辨率更高,可以可靠地区分金和铂。当您需要检测痕量重金属和其他有害物质时,XAN250是您的理想选择。
更强大的性能归功于DPP+和更大面积的硅漂移探测器
在Fischerscope XAN 220, Fischerscope XAN 222,Fischerscope XAN 250和Fischerscope XAN 252上,您现在可以更高精度和更快速度完成测量。与GOLDSCOPE SD 520和SD 550,这些仪器都配备了*由Fischer自主研发的最新数字脉冲处理器DPP+。通过将新处理器与同样新获得的拥有更大有效面积(50 mm²)的硅漂移探测器相结合,可获得并处理更多的信号,同时还能保证能量分辨率。因此,您的收益是:最多可缩短2/3的测量时间,或者减少绝对标准偏差最高达45%。
骏展仪器引用*的技术和管理经验,建立完善的管理体系,产品质量和售前和售后进行严格控制,不断提高公司的产品质量和服务,赢得了客户的信任,使供应的产品在笃挚主要城市的国内和国际市场的快速增长,并获得好评。
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