Fischer X荧光射线测厚仪

Fischer X荧光射线测厚仪

Fischer X荧光射线测厚仪

菲希尔X射线测厚仪特点

X荧光射线测厚仪根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪

X荧光射线测厚仪半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率

XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；

准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm

基本滤片：固定或6种可切换

固定样品支架或手动XY载物台

摄像头可轻松定位最佳测量位置

样品高度最多17厘米;

菲希尔X射线测厚仪应用

Fischer x射线测厚仪牙科合金的无损分析，银测试

多层镀层测试

电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析

消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量

根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量

骏展仪器产品覆盖长度测量仪器,光学仪器,形状,工具,材料检测仪器、涂层和表面处理的测试仪器,已经为许多国内外大中型企业提供服务,优良的品质和完善的服务,赢得了客户的*,并建立了一个稳固的市场地位。公司主要从事物理表面检测仪器的销售和服务。拥有长期致力于行业的高科技人才和高效的管理团队，人才是公司立足的根本保证，也是公司未来发展的坚实基础，是公司更宝贵的财富。